原位晶体结构测试仪

作者:院办公室 时间:2023-05-17 点击数:

型号:布鲁克 D8 DISCOVER 

产地:德国

主要技术参数

1.  X射线光源与光管

1.1 射线发生器

  1.1.1 输出功率≥3 kW

  1.1.2 最大电压≥60 kV

  1.1.3 最大电流≥60 mA

1.2 长寿命陶瓷射线光管

  1.2.1 Cu靶陶瓷光管,标准尺寸设计

  1.2.2 电流电压稳定度:优于0.005% (外电压波动10%时)

  1.2.3 射线防护/射线防护:安全连锁机构、剂量优于国标,辐射量小于1 Sv/h。提供2套独立的安全电路,符合CEDIN54113认证。

2.  测角仪

2.1 测角仪具有光学定位系统

2.2  扫描方式:Theta/Theta测角仪,立式测角仪

2.3  转动范围:-110~168

2.4  测角仪半径:≥250 mm,测角圆直径可连续改变

2.5 最小步长:0.0001,角度重现性:0.0001

2.6 驱动方式:步进马达加光学编码器驱动。

3.  探测器

3.1  能量色散阵列探测器:相对与常规点探测器强度提高450倍,比一维探测器提高三倍,灵敏度提高一个数量级。

3.2  探测器面积14 × 16 mm,子通道190 × 15个,保证每个子通道完好,随机带保证书,支持固定模式扫描以及原位分析,可用于验收。

3.3  最大计数:≥1×108 cps

3.4  动态范围:≥1×109 cps

3.5  背景:0.1 cps

3.6  能量分辨率:探测器本身能量分辨率≤4.75%380 ev/8000 ev),探测器通过能量窗口能够完全能够分辨CuKaCuKβ射线,测量时无需在光路上使用滤波片、单色器或者多层膜镜过滤CuKβ射线。同时也可以通过探测器实现单色衍射。

3.7  提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试,最低0.3度起测。

3.8  验收精度:国际标准样品NIST 1976刚玉标样现场检测,全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度(20度到140度),随机带保证书

3.9  可采用零维模式(点探测器),一维模式(阵列探测器),二维(面探测器)。

4.  样品台

4.1  标准粉末水平样品台,多种类型及规格样品架

4.2 原位电池充放电装置

  4.2.1 电池模具X射线窗口直径:≥16 mm

  4.2.2 电池模具XRD衍射数据测量范围:150°

  4.2.3 安装支架高度调节范围:± 5 mm

  4.2.4 可重复使用,重复性能好。原位电池模具密封性能好,可实现电池材料的多次充放电循环。可实现正负极材料的原位研究和高低电压材料的原位研究。测试系统可使用电化学工作站或电池测试仪进行充放电。需要有成熟的电池原位测试应用报告。

5.  光路部分

5.1 所有光学附件均采用模块化设计,安装、拆卸方便快捷。

5.2 所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位。

6.  数据采集系统

物相检索软件:含原始数据直接检索功能,数据处理软件,含物相定量分析:可编程定量分析。无标样定量分析,无标晶粒尺寸分析,粉末衍射结构解析功能。

仪器配置:陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。

用途物相鉴定、定量物相分析、微观结构和晶体结构分析、残余应力和纹理研究、X射线反射仪、SAXSPDF分析以及微观衍射。我院主要用于采集目前锂电池储能系统中的材料结构变化,建立材料结构和性能的数据库,指导新型电池材料的研发与制备,积极推进新型储能材料的发展。

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